電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎，元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。因此，必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機理，找出失效原因，反饋給設計、制造和使用，共同研究和實施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。

電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認結果的失效原因，提出改進設計和制造工藝的建議，防止失效的重復出現(xiàn)，提高元器件可靠性。

失效分析意義

1、提供電子元器件設計和工藝改進的依據(jù)，指引產(chǎn)品可靠性工作方向；

2、查明電子元器件失效根本原因，有效提出并實施可靠性改進措施；

3、提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性，提升企業(yè)核心競爭力；

4、明確引起產(chǎn)品失效的責任方，為司法仲裁提供依據(jù)。

分析過的元器件種類

集成電路、場效應管、二極管、發(fā)光二極管、三極管、晶閘管、電阻、電容、電感、繼電器、連接器、光耦、晶振等各種有源/無源器件。

中科檢測是具備CMA、CNAS資質認證的第三方檢測機構，累計數(shù)十年檢測經(jīng)驗和資源團隊，能對電子元器件失效原因進行檢測分析，并根據(jù)失效分析和根因為產(chǎn)品物料優(yōu)選、設計改進和失效預防提供技術解決方案。